测量真正的特性。
电子零件、半导体器件、材料、电池...在实际的使用条件下进行测量。
【基本精度】+0.08%
【阻抗范围】10 μΩ ~ 100 GΩ(模式:IMPD-EXT)
【DC 偏置】-5 V ~ +5 V /-40 V ~ +40 V (1 kHz 以上)-100 mA ~ +100 mA
【测量参数】Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dμ,Q, V, I, εs, εs′, εs″, μs, μs′, μs″, FREQUENCY
【频率范围】10 μHz ~ 36 MHz
【测量AC信号级别】0.01 mVrms ~ 3 Vrms0.1 μArms ~ 60 mArms
【测量时间】0.5 ms/point
快速测量
实现了业界最快的0.5ms/point。缩短生产线的节拍时间,提高测量作业的效率。此外,通过增加设定的测量时间,使测量结果平均化,减轻噪声的影响。可视需要选择最合适的测量时间。
【4种测量模式】——应对广泛的
■IMPD-3T 标准测量模式
本模式可以在广泛的频率范围内进行高精度测量。可使用测试线及测试夹具,应对各种形状的试样。

■IMPD-2T 高频测量模式
本模式可以在10MHz以上的高频下进行稳定的测量。使用N型连接器进
行2端子测量,即便配线长,也可以进行稳定的测量。

■IMPD-EXT外部扩展测量模式
本模式为外部连接放大器或分流电阻等物进行测量。
可以通过施加高压信号或检测微小电压/电流进行单独使用本仪器无法应对的测量。

■G-PH增益/相位测量模式
本模式可以测量滤波器、放大器等的传输特性。向被测电路施加扫描信号高精度地测量其频率响应(增益、相位)。

【正面面板测量端子】
