型 号： FRA51615
名 称：频率特性分析仪 FRA51615
品 牌：NF回路设计
简 述： 从逆变器 / 无线供电等电力电子工程、到伺服控制、 电子零件 / 电池的评估、尖端生物技术研究
分辨，拥有高相位精度，可得详细得知共振点附近的特性。
【增益 / 相位测试】
■电源迴路环形增益测试
进行实际驱动状态的 DC-DC 转换器的环路增益特性测试，通过对相位裕度·增益裕度对迴路稳定性的定量进行评价。
依靠 600V CAT II / 300V CAT III，非绝缘型 PFC 迴路可以直接与商用电源连接进行测试。
■无线供电传送效率测试 ■滤波器的输入输出特性测试 ■振动分析
【测试作业的效率UP！】
■顺序测试
对于设定存储的内容，按照编号顺序读出并扫描测试的功能。对于一个扫描，可将频率范围最多分割成 20 个部分，在各自的频率范围内分别按不同的振幅、积分设定等进行测试。滤波器和压电元件等想要高密度地测试特定的频率范围时，多层陶瓷电容器（MLCC）、电感器和变压器等具有偏压依存性的零部件的测试等较为方便。
■标记搜索功能
除让标记移动并读取数值外，还可自动搜索符合设定条件的点。
■群延时测试
可显示用于滤波器等电子电路波形再现性评价的群延时（GD： Group Delay，用 角频率对输入输出间的相位进行微分）。
■频率变化时相位控制
在振荡器输出信号的相位为 0°时改变频率。由此，从频率扫描开始到结束期间的直流成分变为零，在电池的阻抗测试中，充放电状态不发生变化。另外，在高通滤波器（HPF）的频率特性测试中，不会由于直流而产生瞬态响应。
■误差校正
开路校正／短路校正／负载校正，端口延长功能，电位梯度消除功能，补偿。
开路校正／短路校正开路时通过浮动导纳、短路时通过残余阻抗校正测试误差。（阻抗测试）
●负载校正
将已知数值的样品作为标准阻抗来校正误差。（阻抗测试）
●端口延长功能
在使用较长电缆时校正因传输延时引起的误差。（阻抗测试）
●电位梯度消除功能
假定测试信号是由正弦波和锯齿波（电位变动波形）构成的，分别测出正弦波与锯齿波各自的大小与相位。消除由于电池等
充放电造成的电位变化的影响。（阻抗测试）
●补偿
对于连接到外部的传感器和电缆等测试系统的频率特性进行预先测试，校正测试系统的误差成分。（增益 / 相位测试）
※在各个（ ）内的测试中使用的校正功能。
【图表显示】
●SPLIT 显示
可选择在 1 个画面上显示 1 个图表的“SINGLE”和上下显示
2 个图表的“SPLIT”。
●数据迹线
可覆盖参考数据迹线（REF）和测试数据迹线（MEAS）。
●相位 UNWRAP 显示
按 0°、180°、360°不折回地连续显示相位。
还可显示超过 ±360°的相位。
【规 格】
■振荡器部分
连接器
绝缘型 BNC 连接器(正面面板，OSC)
频率
10 μHz ~ 15 MHz
设定分辨率：10 μHz
精度：±10 ppm (内部基准时钟使用时)
AC振幅
0 ~ 10 Vpk
设定分辨率：3位数或者 0.01 mVpk 两者最大一方
DC偏置
-10 V ~ +10 V
设定分辨率：10 mV
输出电阻
50 Ω ±2 % (1 kHz)
最大输出
电压 ±10 V
电流 ±100 mA
扫频
扫频密度：3 ~ 20,000 steps / sweep
扫频种类：可选择线性或 log
扫频时间：最快 0.5ms (每个频点)
输出控制
QUICK：瞬时设定电压或设为 0V
SLOW：约 10 秒徐徐增减，设定电压或设为 0V
0°相位的输出 OFF 功能
0°相位的频率变更功能
AC，DC 同时 ON / OFF 及也可 AC 单独 OFF
测试开始时自动 ON，测试结束时自动 OFF
隔离
600 V CAT II / 300 V CATIII
(BNC Ground 对 框体)
对框体容量
150 pF 以下
DC BIAS OUT（背部）
DC 偏置输出端在背部面板 DC BIAS OUT（连接器设定时）
连接器：BNC 连接器；
设定范围：-10 V ~ 10 V
输出电阻：600 Ω ±2 %
■分析输入部分
| 输入通道数 | 2通道(CH1,CH2) |
| 输入连接器 | 绝缘型BNC连接器 |
| 输入电阻 | 1MΩ±2%，并联时20pF±5pF |
| 设定量程 | 10量程(30m/100m/300m/1/3/10/30/100/300/600Vrms)及自动 |
| CH1,CH2独立设定 | |
| 最大输入电压 | 600V CAT II / 300V CATIII |
| 最大测试电压 | 600Vrms |
| 过压检测设定 | 0～600Vrms |
| (过压警示灯点亮，警报报警，扫频测试中止) | |
| 动态量程 | 140dB(10Hz～1MHz) |
| 80dB(1MHz～15MHz) | |
| IMRR | 隔离模拟抑制比 120dB以上(DC～60Hz) |
| 隔离 | 600V CAT II / 300V CATIII |
| BNC接地对框体 | |
| 对框体容量 | 200pF以下 |
■演算处理功能
| 测试模式 | UP SWEEP：扫频测试（频率升序） |
| DOWN SWEEP：扫频测试（频率降序） | |
| SPOT：现有频率测试（非扫频） | |
| REPEAT：固定频率重复测试 | |
| SINGLE：固定频率单次测试 | |
| 积分功能 | 为去除杂讯对测试影响的数据积分功能 |
| 0～9,990s 或 1～9,999循环 | |
| 延迟功能 | 每次频率变更后，测试开始的时间延迟 |
| 0～9,990s 或 1～9,999循环 | |
| 测试开始延迟功能 | 扫频或点测 仅单次测试开始的时间延迟 |
| 0～9,990s 或 1～9,999循环 | |
| 自动积分功能 | 针对杂讯引起的测试波动成分进行反复积分、使之达到设定范围以内的功能。 |
| 振幅压缩功能 | 为防止被测试部分的饱和、破损，振荡器输出进行自动调整使被测部分振幅为一定值的功能。 |
| 目标振幅设定：1 μV～600 Vrms | |
| 振荡器输出电压的电压限制：1 mV～10 Vpk | |
| 容许误差设定：1～100 % | |
| 最大重试次数：1～9,999 | |
| 辅正率：1～100 % | |
| 自动高密度扫频 | 测试数据大幅度变化时，自动针对前后区间提高扫频密度进行测试的功能。 |
| 变化幅度的设定范围 | |
| a，b，R：0～600 Vrms | |
| dBR：0～1000 dB | |
| 相位：0～180° | |
| 时序测试功能 | 根据测试条件存储器内容进行测试的功能。 |
| · UP SWEEP：按照存储号码1号设定频率范围，随之按照存储号码2号设定频率范围进行联聚扫频测试。 | |
| · DOWN SWEEP：最初的设定条件为上限存储号码，其次（上限存储号码-1）的设定为测试条件，存储号码1为截止进行连续降序扫频测试 | |
| 上限存储号码设定范围 1～20 |
■分析处理部分
表示项目
增益（比值，无单位）／电阻 切换
测试精度
固定量程
测试精度 ＝ 相対精度 ＋ 校正精度
相対精度 ＝±（｜基本精度｜＋｜动态精度｜＋｜量程间精度 ×N｜）
校正精度 ：外部链接分流电阻，探头，校正用标準治具等的精度
基本精度 上段 ：增益（比率），中段 ：电阻 Z，下段 ：相位
测试量程（rms）
频率
≦100 kHz
≦200 kHz
≦1 MHz
≦2 MHz
600 V
±0.2 dB
—
—
—
±2.4 %
±1.2
300 V
±0.1 dB
—
—
±1.2 %
±0.6°
100 V
±0.05 dB
—
—
±0.58 %
±0.3°
30 V
30 mV
±0.01 dB
±0.025 dB
±0.1 dB
±0.12 %
±0.29 %
±1.2 %
±0.06°
±0.15
±0.6
测试量程（rms）
频率
≦5 MHz
≦15 MHz
30 V
30 mV
±0.2 dB
±0.5 dB
±2.4 %
±5.9 %
±1.2°
±3.0°
条件 ：
·积分 30 循环以上
·两通道固定量程，两通道同一量程
·两通道均為最大量程讯号输入时的增益，Z，相位的误差
＊表中的“—”為测试不可或不符精度规格
固定量程
动态精度（摘要） 增益（比率）／电阻 Z／相位
100kHz 以下并且 300mV ～ 600V 量程 ：±0.1 dB ／±1.2 ％／±0.6°
15kHz 以下并且 100mV ～ 10V 量程 ：±0.5 dB／±6.0 ％／±3.0°
条件：
·积分 30 循环以上
· 兩通道固定量程，兩通道同一量程
· 两通道的输入讯号级别关係為 1：1 或 1：0.1 时，输入讯号级别大的通道的
最大量程到 1/10 量程变动时的通道间增益，Z，相位的变动部分
量程间精度（摘要） 增益（比率）／电阻 Z／相位
100kHz 以下并且 300V 量程 以下 ：±0.05 dB ／±0.58 ％／±0.3°
15MHz 以下并且 10V 量程以下 ：±0.05 dB ／±0.58 ％／±0.3°
100kHz 以下并且 600V 量程 ：±0.1 dB ／±1.2 ％／±0.6°
条件 ：
·积分 30 循环以上
·两通道固定量程
· 两通道的测试量程不同，输入讯号级别两通道相同
（小量程的的最大量程级别）增益，Z，相位的误差
自动量程
测试精度 ＝ 相対精度 ＋ 校正精度
相対精度 ＝ ±（｜基本精度｜＋｜动态精度｜）
校正精度 ：外部链接分流电阻，探头，校正用标準治具等的精度
基本精度 上段 ：增益（比率），中段 ：电阻 Z，下段 ：相位
讯号级别
（rms）
频率
≦100 kHz
≦200 kHz
≦1 MHz
≦2 MHz
7 V
±0.2 dB
±0.2 dB
±0.2 dB
±0.2 dB
±2.4 %
±2.4 %
±2.4 %
±2.4 %
±1.2°
±1.2°
±1.2°
±1.2°
讯号级别
（rms）
频率
≦5 MHz
≦15 MHz
7 V
±0.2 dB
±0.5 dB
±2.4 %
±5.9 %
±1.2°
±3.0°
条件 ：
·积分 30 循环以上
· 两通道均為自动量程
· 两通道的输入讯号级别相同时的增益，Z，相位的誤差
动态精度（摘要） 增益（比率）／电阻 Z／相位
100kHz 以下并且 30Vrms ～ 600Vrms 之时：±0.1 dB／±1.2 ％／±0.6°
15MHz 以下並且 100mVrms ～ 20Vrms 之時：±0.5 dB／±6.0 ％／±3.0
条件：
·積分 30 循環以上
· 两通道均為自动量程
· 两通道的输入讯号级别关係為 1 ：1 或 1 ：0.1 时，关係值大的通道输入讯号级别
以 7 Vrms 為基準，在上述范围内变化时的通道间增益，Z，相位的变动部分
误差辅正功能（校正）
内部產生误差自我测试辅正功能
■增益测试
分析模式
比：CH1 / CH2，CH2 / CH1
振幅：CH1，CH2
图表种类
波特图，奈奎斯特图，尼柯尔斯图
测试数据项目
dBR（增益dB），θ（相位），GD（群延迟），
R（增益绝对值 / 振幅），a（增益实部 / 振幅实部），
b（增益虚部 / 振幅虚部）
辅功能（均衡）
感应器及连线等的测试部分频率特性辅正
■电阻测试
测试方法
CH1 的测试振幅以电压量，CH2 的测试振幅以电流量进行测试
分析模式
阻抗 CH1 / CH2
导纳 CH1 / CH2
电压 CH1
电流 CH2
图表种类
波德图，奈奎斯特图，科尔作图
测试数据项目
Z(阻抗值)
R，X(电阻，电抗)
Y(导纳值)
G，B(电导，电纳)
Ls, Lp(电感)
Cs, Cp(电容)
Rs, Rp(电阻)
V(电压)
I(电流)
θ(相位)
D(损失率)
Q(品质系数)
辅正功能
开放辅正
短路辅正
负载辅正
负载校正值：最多10点的频率校正值输入
线路延长电阻变化对应
2端子测试时连线造成相位迟延引起误差的辅正
电位梯度去除
讯号重叠的DC级别，与时间共同的直线变化的情况，不受DC级别影响的分析功能。
(充放电中电池阻抗测试时使用)
■显示部分
显示器
显示器8.4英寸彩色TFT-LCD（SVGA）触摸屏
图表显示样式
SINGLE：画面1单张图表显示
SPLIT ：画面2上下两张图表显示
数据追踪
参照数据追踪（REF）
测试数据追踪（MEAS）
自动定标功能
图表最适显示自动定标功能
标识显示
主标识，△标识
标识搜索功能
搜索项目
Max, Min：最大，最小值
Peak, Bottom：Peak（极大值），bottom（极小值）
Next Peak ：次回Peak
Next Bottom ：次回bottom
Value ：标识值
△Value ：△标识与主标识的差
X Value ：频率
※扫频测试结束时可自动搜索
■数据存储
测试数据(MEAS)
扫频测试数据，最大可保存20组在内部存储器
参照数据(REF)
与测试数据(MEAS)一同图表显示的数据
从测试数据或USB复裂
可显示ON/OFF
误差辅正数据
开放辅正数据，短路辅正数据，负载辅正数据，
均衡数据
测试条件
20组
数据保持
不含内部存储没有保存的测试数据，关闭电源
也可保持
在测试数据的时间区域里进行微分／二次微分／积分／二次积分的功能。对于来自加速度传感器和激光多普勒振动计的信号，在扫描的同时进行运算，变换成位移／速度／加速度并显示。
■接口（GPIB，USB，LAN，RS-232，VGA）
标准配备 GPIB, USB, LAN, RS-232 接口。可构建自动测试系统。
另外，在背面配备了 VGA 连接器作为外部显示器。关于其他输出连接器等，请参阅右侧的背面照片。
